ES62X-LVS低壓浪涌系統(tǒng)

1.描述

ES62X-LVS 型低壓浪涌系統(tǒng)能夠輸出符合IEC 61000-4-5，GR-1089-CORE和C62.45-2002標(biāo)準(zhǔn)的雷電浪涌特性波形，用于晶圓級(jí)和封裝級(jí)器件的浪涌敏感度測(cè)試。系統(tǒng)具有瞬態(tài)波形測(cè)量和靜態(tài)IV曲線測(cè)試功能，便于確定被測(cè)器件的ESD損傷閾值。

脈沖發(fā)生器的設(shè)計(jì)和脈沖輸出方法保證了被測(cè)器件端（而非發(fā)生器輸出端）的波形性能。系統(tǒng)能夠獲取浪涌脈沖注入時(shí)的瞬態(tài)電流和電壓波形，用于分析包括ESD保護(hù)器件開啟電壓等級(jí)在內(nèi)的被測(cè)器件ESD特性。通過對(duì)比脈沖注入時(shí)的電壓波形變化，還能夠判定故障等級(jí)。

2.特點(diǎn)

• 1V至500V電壓范圍內(nèi)波形干凈，線性度高

• 全隔離的放電電路

• 軟件控制，自動(dòng)化測(cè)量

• 損傷閾值自動(dòng)監(jiān)測(cè)（含DC漏電測(cè)量及靜態(tài)IV掃描）

3.應(yīng)用

• 基于IEC61000-4-5 8 /20μs標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)行電源、驅(qū)動(dòng)PCB、通信系統(tǒng)、LCD顯示屏等模塊的浪涌抗擾度測(cè)試

• 進(jìn)行晶圓、封裝和PCB級(jí)的浪涌脈沖敏感度測(cè)試

• 10 /1000μs波形的晶圓、封裝、PCB和系統(tǒng)級(jí)浪涌敏感度和抗擾度測(cè)試

4.規(guī)格

5.訂購信息